SuperView系列光学3D表面轮廓仪在光通信行业中的应用

在5G建设、物联网及云计算行业发展、AR&VR&视频等应用渗透率不断提高等因素的推动下，全球网络流量呈现持续的高增长态势，流量迅猛增长促进全球大型数据中心与超大型数据中心数量不断增加，带动了光通信行业的迅猛发展，也促进了其中作为核心器件光波导需求的大幅增长。

FA光纤阵列是平面波导分路器的重要部件之一，在光通信行业中广泛应用，其在生产过程中需要对光纤端面进行光学研磨抛光以提高光纤通讯的传输效率。因为光纤连接器的插入损耗及回波损耗与光纤表面的粗糙度存在对应关系，表面粗糙度值越低，光纤连接器的插入损耗值越小，回波损耗值越高，光纤的传输效率就越高，因此必须严格控制光纤端面的表面粗糙度。

在光纤端面的检测需求中，需要测量FA光纤阵列端面光纤中心250×250μm区域内的表面粗糙度，要求Sz参数控制在200nm之内，由于该数值主要是由于光纤端面中心存在一圆形凸台所产生，因此Sz数值虽然不小但因光纤端面具有超光滑、透明等特征，导致基于镜头对焦3D成像的光学检测仪器均存在焦面重建失真的风险和问题，而基于光学干涉实现3D成像测量的白光干涉仪则是能够克服光纤端面超光滑和透明的难点，轻松实现针对光纤端面粗糙度的测量。

图.光纤端面光学干涉条纹图

中图仪器SuperView W1光学3D表面轮廓仪，是基于白光干涉原理和纳米扫描系统研制而成，其具备0.1nm的纵向分辨率和全透明表面干涉条纹成像的能力，能够轻松实现针对FA光纤端面粗糙度Sz参数的高精度、高重复性的一键式测量。

从测量视频可知，在测量光纤端面的过程中，使用自主开发的光学3D表面轮廓仪软件，能够自由预配置好数据处理与分析工具，只需一键“自动测量"，即可直接完成对端面微观形貌的3D重建和获取最终Sz数值结果。

图.光纤端面测量场景及3D图像

针对光通信行业中光波导器件的光纤端面粗糙度的检测需求，中图仪器推出SuperView系列光学3D表面轮廓仪，可助力行业客户轻松实现针对产品表面质量的监测与管控，以专业的技术服务，为客户提供产品，创造价值。