中图仪器SuperViewW1光学轮廓测量仪品牌由光学照明系统、光学成像系统、垂直扫描控制系统、信号处理系统、应用软件构成。以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，非接触测量样品表面形貌，主要用于表面形貌纹理，微观结构分析，用于测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等领域。

OP光学轮廓仪主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓，也能测量晶圆翘曲度，适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。也称为白光干涉仪 (WLI)，是一款以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。测量三维形貌的系统原理是在视场范围内从样品表面底部到顶部逐层扫描，获得数百幅干涉条纹图像，找到该过程中每一个像素点处于光强最大时的位置，完

除了用于测量表面形貌或测量表面轮廓外，W1三维光学轮廓仪具有的测量晶圆翘曲度功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。

中图仪器SuperViewW1光学表面3d轮廓测量仪器能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。既可以接入客户现场的稳定气源也可以采用便携加压装置直接加压充气，在无外接气源的条件下也可稳定工作，可以有效隔绝地面传导的振动，同时内部隔振系统能够有效隔绝声波振动，确保仪器在车间也能正常工作。

SJ5800国产粗糙度轮廓检测仪操作便捷，功能广泛，可对各种工件轮廓的几何参数进行测量。系统实时显示扫描轮廓曲线图，一次测量即可评价轮廓尺寸和粗糙度参数，对测量得到的零件轮廓形状数据，用拟合的方法来评定圆弧、角度、倾斜、距离等轮廓尺寸及形位公差。可测量圆弧半径、直线度、凸度、沟心距、倾斜度、垂直距离、水平距离、台阶等形状参数，还可对各种零件表面的粗糙度进行测试；

除主要是用于测量表面形貌或测量表面轮廓外，SuperViewW1便携式3D轮廓测量仪具有的测量晶圆翘曲度功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。通过利用接触式及非接触式双模式基于技术上的优势获得获得全面的表面特性。既可以用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。