中图仪器SuperViewW1白光干涉测厚仪针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。

中图共聚焦显微镜VT6000系列擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

SuperViewW1白光干涉仪粗糙度仪测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

VT6000材料共聚焦显微镜具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。

中图仪器VT6000系列3D超景深共聚焦显微镜设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能，以及自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。

SuperViewW1白光干涉仪品牌是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和优异的3D重建算法组成测量系统，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。