白光干涉测头 主要特点：便携可搭载 一键批量分析 生产企业：深圳市中图仪器股份有限公司

显微尺寸测量仪可用于精密机械、光通讯器件、精密模具、磁性材料、精密冲压、手机精密配件、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。

​SuperViewW1三维白光干涉形貌仪支持纳米级高度测量，0.4μm级别的线宽测量，最大支持80倍的槽深宽比测量，具备点、线、面相关的宽度、高度、角度、直径等各类轮廓尺寸测量功能。

SuperViewW3大尺寸微观形貌仪白光干涉测量各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、高校科研院所等领域中。

中图仪器W1国产白光干涉仪可以对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

SuperViewW1白光干涉测量仪在镜头的上方安装有机械防撞传感器，避免镜头和样品的损伤，双重防护，守护设备和产品。