详细介绍
品牌 | 中图仪器 | 产地 | 国产 |
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加工定制 | 否 |
白光干涉仪粗糙度仪以白光干涉技术原理,对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器,通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。
型号 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系统 | 1024×1024 | |
干涉物镜 | 标配:10× 选配:2.5×、5×、20×、50×、100× | |
光学ZOOM | 标配:0.5× 选配:0.375×、0.75×、1× | |
标准视场 | 0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×) | |
XY位移平台 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移动范围 | 140×100㎜ | |
负载 | 10kg | |
控制方式 | 电动 | |
Z轴聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 电动 | |
形貌重复性 | 0.1nm | |
粗糙度RMS重复性 | 0.005nm | |
台阶测量 | 准确度:0.3%;重复性:0.08%(1σ) | |
可测样品反射率 | 0.05%~100% | |
主机尺寸 | 700×606×920㎜ |
中图仪器SuperViewW1白光干涉仪粗糙度仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。
1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;
2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;
3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;
4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;
5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;
6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。
大尺寸样品_拼接测量
对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
结果组成:
1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;
2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;
3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;
5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;
6、微电子表面分析和MEMS表征。
粗糙度分析操作步骤:
1. 将样品放置在夹具上,确保样品状态稳定;
2. 将夹具放置在载物台上;
3. 检查电机连接和环境噪声,确认仪器状态;
4. 使用操纵杆调节三轴位置,将样品移到镜头下方并找到样品表面干涉条纹;
5. 完成扫描设置和命名等操作;
6. 点击开始测量(进入3D视图窗口旋转调整观察一会);
7. 进入数据处理界面,点击“去除外形",采用默认参数,点击应用获取样品表面粗糙度轮廓;
8. 进入分析工具模块,点击参数分析,直接获取面粗糙度数据,点击右侧参数标准可更换参数标准,增删参数类型;
9. 如果想获取线粗糙度数据,则需提取剖面线;
10. 进入数据处理界面,点击“提取剖面"图标,选择合适方向剖面线进行剖面轮廓提取;
11. 进入分析工具界面,点击“参数分析"图标,点击右侧参数标准,勾选所需线粗糙度相关参数,即可获取线粗糙度Ra数据。
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