SuperViewW光学三维表面粗糙度轮廓仪测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW非接触式光学3D表面形貌测量系统以白光干涉技术为原理，能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

SuperViewW国产白光干涉光学轮廓仪系统基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。

SuperViewW非接触式光学3D表面粗糙度轮廓仪特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能。

SuperViewW光学三维表面形貌测量仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器，单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量。

SuperViewW高精密非接触光学轮廓测量仪以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量。它通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。