SuperViewW1光学材料表面形貌测试仪以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域。是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

SuperViewW1光学形貌轮廓仪测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广，是一款利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器。测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。其特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW1光学三维形貌轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperView W1系列光学轮廓粗糙度测量仪可对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

光学轮廓仪SuperViewW1集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成Z向聚焦、载物台平移、找条纹等测量前工作。3D重建算法、精密Z向扫描模块和光学干涉技术组成的测量系统，以及能有效隔离2Hz以上频率的隔振系统，保证了测量精度和测量重复性。

SuperViewW1白光干涉全自动光学轮廓仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。