SuperViewW白光干涉三维表面测量仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。

SuperViewW非接触式3D白光干涉仪基于白光干涉原理，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

SuperViewW白光干涉3D材料表面轮廓仪采用白光干涉技术，结合具有抗噪性能的3D重建算法，真实还原样品的每一个细节。可以通过重建后的样品表面3D图像观察表面形貌，样品表面形貌展示得更加清晰，图像更大，观察更加方便。

SuperViewW白光干涉微观三维形貌测量仪测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW纳米级微观三维形貌3D白光干涉仪主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。

SuperViewW高精度纳米量级白光干涉测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。