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  • WD4000无图晶圆几何测量系统

    WD4000系列无图晶圆几何测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。

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    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000晶圆几何形貌测量设备

    WD4000晶圆几何形貌测量设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000晶圆表面三维形貌测量设备

    WD4000晶圆表面三维形貌测量设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。

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    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000无图晶圆检测机

    WD4000无图晶圆检测机可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

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    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-08-11
  • WD4000无图晶圆几何量测系统

    WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。可广泛应用于衬底制造 、 晶圆制造 、及封装工艺检测 、3C 电子玻璃 屏及其精密配件、光学加工 、显示面板 、MEMS 器件等超精密加工行业 。可测各类包括从光滑到粗糙 、低 反射率到高反射率的物体表面, 从纳米到微米级别工件的厚度 、粗糙度 、平整度 、微观几何轮廓 、曲率等。

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